Equipaggiamento AOI a LED
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Macchine di ispezione PCB per apparecchiature AOI a LED ottiche automatizzate
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:Automated Optical LED AOI Equipment, PCB Inspection LED AOI Equipment, Automated Optical pcb inspection machine
Model M20 Series Mini LED appearance inspection M2065 Inspection Inspection items Missed bonding, wrong bonding, die damaged, die offset, die tilted, die flipped, wrong polarity, particles, die lift-off, poor collinearity Inspection method Image processing, machine learning Optical System Camera 65M... Visualizza di più
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Sistema di ispezione automatizzata dei difetti dei wafer ottici
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:Automated wafer defect inspection system, Advanced wafer defect inspection system, Automated wafer inspection machine
M20EL Series Mini LED luminescence inspection Model M1020EL Inspection Inspection items Bad die, over luminescence, under luminescence, chroma anomaly Inspection method Image processing, machine learning Optical Camera 20MP Lens FA Resolution 18μm 75μm Light Source RGB Computer configuration PC CPU:... Visualizza di più
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Testatore di wafer a macchina AOI per PCB di ispezione ottica automatizzata
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:Automated Optical pcb aoi machine, Wafer pcb aoi machine, Automated Optical wafer tester machine
ModelM20 Series Mini LED appearance inspection M2025InspectionInspection itemsMissed bonding, wrong bonding, die damaged, die offset, die tilted, die flipped, wrong polarity, particles, die lift-off, poor collinearityInspection methodImage processing, machine learningOptical SystemCamera65MP25MP20MP... Visualizza di più
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Equipaggiamento per l'AOI a LED da 100 V a 240 V Ispezione 3D per prodotti danneggiati
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:Die Damaged LED AOI Equipment, 3D Inspection LED AOI Equipment, Die Damaged 3d inspection equipment
Model M20 Series Mini LED appearance inspection M2065 Inspection Inspection items Missed bonding, wrong bonding, die damaged, die offset, die tilted, die flipped, wrong polarity, particles, die lift-off, poor collinearity Inspection method Image processing, machine learning Optical System Camera 65M... Visualizza di più
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Equipaggiamento AOI a LED a lente bitelecentrica per l'ispezione dei PCB OEM
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:Bitelecentric Lens LED AOI Equipment, OEM LED AOI Equipment, Bitelecentric Lens pcb inspection equipment
M20EL Series Mini LED luminescence inspection Model M2012EL Inspection Inspection items Bad die, over luminescence, under luminescence, chroma anomaly Inspection method Image processing, machine learning Optical Camera 12MP Lens High resolution bi-telecentric lens Resolution 10μm 15μm Light Source R... Visualizza di più
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Semiconduttore industriale Wafer Inspection Equipment Tester Machine Custom
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:Industrial semiconductor wafer inspection equipment, Custom semiconductor wafer inspection equipment, Semiconductor wafer tester machine
Model RD30 Fully Automatic Rework RD30K Basic Function Function Defective die removing, residues cleaning, solder paste/adhesive printing, die bonding, solder curing, luminescence inspection Wafer size 3x5mil-20x20mil Substrate compatibility FR-4, BT substrate, glass substrate, FPC, etc. Maximum boa... Visualizza di più
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Equipaggiamento AOI Ethernet ottico a LED per la prova dei wafer
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:Ethernet LED AOI Equipment, Wafer Test LED AOI Equipment, AOI wafer test equipment
M20EL Series Mini LED luminescence inspectionModelM2012ELInspectionInspection itemsBad die, over luminescence, under luminescence, chroma anomalyInspection methodImage processing, machine learningOpticalCamera12MPLensHigh resolution bi-telecentric lensResolution10μm15μmLight SourceRGB Computer confi... Visualizza di più
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Equipaggiamento per l'ispezione della pasta di saldatura multiangolare
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:Multi Angle solder paste inspection equipment, PCB Visual solder paste inspection equipment, Solder Paste pcb visual inspection machine
Model RD30 Fully Automatic Rework RD30L Basic Function Function Defective die removing, residues cleaning, solder paste/adhesive printing, die bonding, solder curing, luminescence inspection Wafer size 3x5mil-20x20mil Substrate compatibility FR-4, BT substrate, glass substrate, FPC, etc. Maximum boa... Visualizza di più
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Dispositivi di ispezione SMT per wafer personalizzati ad alta risoluzione
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:Custom smt inspection equipment, Wafer smt inspection equipment, Custom wafer inspection equipment
M20EL Series Mini LED luminescence inspection Model M2012EL Inspection Inspection items Bad die, over luminescence, under luminescence, chroma anomaly Inspection method Image processing, machine learning Optical Camera 12MP Lens High resolution bi-telecentric lens Resolution 10μm 15μm Light Source R... Visualizza di più
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Automazione dell'ispezione ottica con apparecchiature LED AOI
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:Wafer Testing LED AOI Equipment, Optical Inspection LED AOI Equipment, Automated wafer testing machine
Model M20 Series Mini LED appearance inspection M2020 Inspection Inspection items Missed bonding, wrong bonding, die damaged, die offset, die tilted, die flipped, wrong polarity, particles, die lift-off, poor collinearity Inspection method Image processing, machine learning Optical System Camera 20M... Visualizza di più
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ODM SMT SPI Macchina Semiconduttore Wafer Inspection Equipment Illuminazione LED
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:ODM smt spi machine, Wafer smt spi machine, SPI semiconductor wafer inspection equipment
Model M20 Series Mini LED appearance inspection M2012 Inspection Inspection items Missed bonding, wrong bonding, die damaged, die offset, die tilted, die flipped, wrong polarity, particles, die lift-off, poor collinearity Inspection method Image processing, machine learning Optical System Camera 12M... Visualizza di più
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240V RGB LED AOI attrezzature macchina di ispezione ottica automatizzata
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:RGB LED AOI Equipment, 240V LED AOI Equipment, 240V aoi automated optical inspection machine
Model M20 Series Mini LED appearance inspection M2025 Inspection Inspection items Missed bonding, wrong bonding, die damaged, die offset, die tilted, die flipped, wrong polarity, particles, die lift-off, poor collinearity Inspection method Image processing, machine learning Optical System Camera 65M... Visualizza di più
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Sistema di ispezione dei semiconduttori USB RS232
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:RS232 semiconductor inspection system, Wafer semiconductor inspection system, USB wafer inspection equipment
Model RD30 Fully Automatic Rework RD30K Basic Function Function Defective die removing, residues cleaning, solder paste/adhesive printing, die bonding, solder curing, luminescence inspection Wafer size 3x5mil-20x20mil Substrate compatibility FR-4, BT substrate, glass substrate, FPC, etc. Maximum boa... Visualizza di più
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Mini LED attrezzature AOI controllo del circuito stampato Alta risoluzione
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:High Resolution LED AOI Equipment, Printed Circuit LED AOI Equipment, Mini LED printed circuit inspection equipment
Model RD30 Fully Automatic Rework RD30L Basic Function Function Defective die removing, residues cleaning, solder paste/adhesive printing, die bonding, solder curing, luminescence inspection Wafer size 3x5mil-20x20mil Substrate compatibility FR-4, BT substrate, glass substrate, FPC, etc. Maximum boa... Visualizza di più
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Macchina per l'ispezione dei wafer AOI a LED 3D Solder Paste 60Hz
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:LED wafer inspection machine, Solder Paste wafer inspection machine, LED 3d solder paste inspection machine
M20EL Series Mini LED luminescence inspectionModelM2012ELInspectionInspection itemsBad die, over luminescence, under luminescence, chroma anomalyInspection methodImage processing, machine learningOpticalCamera12MPLensHigh resolution bi-telecentric lensResolution10μm15μmLight SourceRGB Computer confi... Visualizza di più
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Equipaggiamento AOI a LED per Windows 10 per la prova dei wafer 2000W
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:2000W LED AOI Equipment, Windows LED AOI Equipment, Windows wafer test equipment
M20EL Series Mini LED luminescence inspection Model M2012EL Inspection Inspection items Bad die, over luminescence, under luminescence, chroma anomaly Inspection method Image processing, machine learning Optical Camera 12MP Lens High resolution bi-telecentric lens Resolution 10μm 15μm Light Source R... Visualizza di più
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RoHS AOI SPI SMT Sottosottosottosottosottosottosottosottosotto
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:ROHS solder paste inspection machine, Multi Angle solder paste inspection machine, Multi Angle spi smt machine
Model M20 Series Mini LED appearance inspection M2025 Inspection Inspection items Missed bonding, wrong bonding, die damaged, die offset, die tilted, die flipped, wrong polarity, particles, die lift-off, poor collinearity Inspection method Image processing, machine learning Optical System Camera 65M... Visualizza di più
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Equipaggiamento AOI a LED integrato per l'ispezione dei semiconduttori
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1
Tempo di consegna: 3Weeks
Marca: MENTO
Evidenziare:Integrated LED AOI Equipment, Semiconductor LED AOI Equipment, Integrated semiconductor inspection equipment
Model M20 Series Mini LED appearance inspection M2020 Inspection Inspection items Missed bonding, wrong bonding, die damaged, die offset, die tilted, die flipped, wrong polarity, particles, die lift-off, poor collinearity Inspection method Image processing, machine learning Optical System Camera 20M... Visualizza di più
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