Sistemi di prova dei semiconduttori
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LDBI Laser Aging Semiconductor Test Systems Sistema di prova multicanale
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1 unit
Tempo di consegna: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Evidenziare:Sistemi di prova dei semiconduttori per invecchiamento laser, Sistemi di prova dei semiconduttori LDBI, Analisi del dispositivo di alimentazione multicanale
LDBI Laser Aging Semiconductor Test Systems Sistema di prova multicanale
LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow pulse high current testing and ag... Visualizza di più
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1200V/100A Analisatore di parametri dei semiconduttori SPA6100
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1 unit
Tempo di consegna: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Evidenziare:Analisatore di parametri per semiconduttori 1200V/100A, SPA6100 Sistemi di prova dei semiconduttori, SPA6100 Analisatore di parametri dei semiconduttori
1200V/100A Analisatore di parametri dei semiconduttori SPA6100
L'analizzatore di parametri dei semiconduttori SPA6100 offre vantaggi tra cui elevata precisione, ampia gamma di misura, rapida flessibilità e forte compatibilità.Questo prodotto supporta la prova simultanea di corrente continua-tensione... Visualizza di più
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10kV/6000A Analisi statica del dispositivo di alimentazione PMST Per Mosfet BJT IGBT SiC GaN Semiconduttore
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1 unit
Tempo di consegna: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Evidenziare:10 kV/6000A analizzatore del dispositivo di alimentazione, PMST di prova statica dell'analizzatore, BJT IGBT Power Device Analyzer
10kV/6000A Analisi statica del dispositivo di alimentazione PMST per i semiconduttori MOSFET BJT IGBT e SiC GaN
Il sistema di prova dei parametri statici PMST per dispositivi di potenza integra molteplici funzioni di misurazione e analisi, consentendo di testare con precisione i parametri stat... Visualizza di più
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Sistema di prova C-V per dispositivi semiconduttori 10 Hz-1 MHz
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1 unit
Tempo di consegna: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Evidenziare:Dispositivo di alimentazione a semiconduttore da 1 MHz, Dispositivo di alimentazione a semiconduttori a 10 Hz, Sistema di caratterizzazione dei semiconduttori C-V
Sistema di prova C-V per dispositivi semiconduttori 10 Hz-1 MHz
La misurazione della capacità-tensione (C-V) è ampiamente utilizzata per caratterizzare i parametri dei semiconduttori, in particolare nei condensatori MOS (MOS CAP) e nelle strutture MOSFET.La capacità di una struttura metallo-ossido-s... Visualizza di più
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1000A Sistema di prova del sensore di corrente CTMS Attrezzatura di prova dei semiconduttori
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1 unit
Tempo di consegna: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Evidenziare:Sistema di prova del sensore di corrente 1000A, Equipaggiamento di prova dei semiconduttori CTMS, 1000A CTMS Test dei semiconduttori
1000A Sistema di prova del sensore di corrente CTMS Attrezzatura di prova dei semiconduttori
Il sistema di prova CTMS integra una varietà di funzioni di misurazione e analisi e può misurare con precisione i parametri statici e dinamici di vari sensori di corrente (sensori di corrente di Hall,di larg... Visualizza di più
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